Η εικόνα SXM είναι μια έκδοση του λογισμικού ανάλυσης εικόνας δημόσιου τομέα NIH Image που έχει επεκταθεί για να χειριστεί τη φόρτωση, την εμφάνιση και την ανάλυση εικόνων μικροσκοπίου σάρωσης. Η εικόνα SXM υποστηρίζει εικόνες SAM, SCM, SEM, SFM, SLM, SNOM, SPM και STM από τα παρακάτω συστήματα: Ασύρματη έρευνα, Burleigh Instruments, ψηφιακά όργανα NanoScope II-III- IV, DME Rasterscope, DME Surface Data File, Gatan DigitalMicrograph, JEOL JSM, JEOL WinSem, JEOL WinSPM, JPK Instruments, Klocke Nanotechnik Atomikro, Leica LIF, Leica TCS, LEO SEM, Μοριακή απεικόνιση PicoScan, NanoMagnetics Instruments SPMSIF, Nanonics Imaging, Nanonis, Nanosurf easyScan, Nanotec Electronica WSxM, -MDT, Omicron Vakuumphysik, Omicron SCALA, Oxford Instruments TOPSystem, Πάρκο Επιστημονικά Όργανα HFS-LIF, Πάρκο Επιστημονικά Όργανα HDF, Philips SEM, Quesant Instruments, RHK Τεχνολογία SPM-32, RHK Τεχνολογία XPM Pro, Seiko Instruments (SIINT) STM Aarhus, ThermoMicroscopes, TopoMetrix SPMLab, Unisoku, Γεννήτριες κενού SAM, Veeco Innova, Τεχνολογία WA, Zeiss AxioVision, Zeiss LSM
Τι νέο υπάρχει
- Ο περιορισμός των περιθωρίων κέρδους σε μεγέθη ισχύος από 2 ώστε να επιτρέπονται οι λειτουργίες FFT τώρα, πατώντας το πλήκτρο καρτελών
- Αλλαγές στην ανάλυση «Βακτηριακές μικρομοριακές»
Τι νέο υπάρχει στην έκδοση 197:
Τα σχόλια δεν βρέθηκε